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Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité
Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.
Types de documents publiés
Sujets
Electrical insulation
KPFM
HVDC cable
Polarity reversal
Electrodes
Acoustic wave propagation
Thin films
Interfacial charge
Electron-beam irradiation
Breakdown
Silver
Plasma processes
Dielectric
FLIMM
Cumyl alcohol
Transport
Dielectric films
AFM
PTFE
PEA
Proteins
Bipolar charge transport model
Dielectric charging
Kelvin Probe Force Microscopy
Epoxy resin
Cathodoluminescence
Epoxy
Dielectric properties
Insulating polymers
Polyimide
FTIR
Dielectrics
Cable
Polymeric insulation
Electrostatics
Nanostructured dielectrics
Ac electric field
SiO2
Polarization
Cross-linked polyethylene
HVDC
XLPE
LDPE
Charges injection
Optimization
Conduction current
Dielectric materials
Polyethylene
AgNPs
DC stress
Charge measurement
Electric field
Plasma process
Space charge
Field distribution
Interfaces
Conductivity
Cross-linking by-products
Polypropylene
BSA
Electrical ageing
Crosslinked polyethylene
Electric field distribution
Radiation effects
Gamma irradiation
Thermal aging
LIMM
Fluid model
Current measurement
Insulation
Charge d'espace
Charge transport model
Mechanical properties
Charge transport modeling
Polymers
Power cables
Partial discharges
Silicon compounds
Luminescence
Ageing
EFM
Aluminum oxide
Polymer
DC conductivity
Accumulation characteristics
Charge transport
Nanocomposite
Charge injection
Plasma deposition
Charge trapping
Rotating machines
Pulsed electro acoustic method
Permittivity
Atomic force microscopy
C-AFM
Dielectric material
Space charges
Electroluminescence
Silver nanoparticles
Modeling