Accéder directement au contenu
Documentation
FR
Français (FR)
Anglais (EN)
Se connecter
Collection
SYSMIC
Recherche
Loading...
Recherche avancée
Information de documents
Titres
Titres
Sous-titre
Titre de l'ouvrage
Titre du volume (Série)
Champ de recherche par défaut (multicritères) + texte intégral des PDF
Résumé
Texte intégral indexé des documents PDF
Mots-clés
Type de document
Sous-type de document
Tous les identifiants du document
Identifiant HAL du dépôt
Langue du document (texte)
Pays (Texte)
Ville
À paraître (true ou false)
Ajouter
Auteur
Auteur (multicritères)
Auteur (multicritères)
Auteur : Nom complet
Auteur : Nom de famille
Auteur : Prénom
Auteur : Complément de nom, deuxième prénom
Auteur : Organisme payeur
Auteur : IdHal (chaîne de caractères)
Auteur : Fonction
Auteur : personID (entier)
Auteur : Identifiant de l'organisme payeur
Auteur : Identifiant de la structure
Directeur de thèse
Éditeur
Éditeur scientifique
Éditeur de la série
Ajouter
Structure
Structure (multicritères)
Structure (multicritères)
Structure : Acronyme
Structure : Nom
Structure : Code
Structure : Pays
Structure : Type
Structure : État dans le référentiel
Structure : Identifiant HAL de la structure
Structure/équipe de recherche : Pays
Structure/regroupement d'équipes : Pays
Structure/laboratoire : Pays
Structure/regroupement de laboratoires : Pays
Structure/institution : Pays
Structure/regroupement d'institutions : Pays
Ajouter
Autres
Champ de recherche par défaut (multicritères)
Champ de recherche par défaut (multicritères)
Revues (multicritères)
Revue : Éditeur
Revue : Titre abrégé
Revue : Titre
Revue : Identifiant interne
Revue : Date de début de publication
Revue : ISSN électronique
Revue : ISSN
Revue : Éditeur
Revue : Couleur dans SHERPA/RoMEO
Revue : État dans le référentiel
Colloque (multicritères)
Colloque : Titre
Colloque : Organisateur
Colloque : date de début (Année)
Colloque : date de fin (Année)
Conférence invitée (oui/non)
Projets ANR (multicritères)
Projet ANR : Acronyme
Projet ANR : Acronyme du programme
Projet ANR : Code décision (référence)
Projet ANR : Nom
Projet ANR : Identifiant interne
Projet ANR : État dans le référentiel
Projets européens (multicritères)
Projet européen : Acronyme
Projet européen : Identifiant de l'appel à projet
Projet européen : Référence
Projet européen : Nom
Projet européen : Date de fin
Projet européen : Financement
Projet européen : Date de début
Projet européen : État dans le référentiel
Projet européen : Identifiant interne
Date de production : année
Date de mise en ligne : année
Date de publication : année
Date d'écriture : année
Date de modification du dépôt : année
Date de dépôt : année
Date de publication électronique : année
Collection HAL (multicritères)
Collection HAL : catégorie
Collection HAL : Code
Collection HAL : Nom
Collection HAL : Identifiant interne
Identifiant interne du contributeur/déposant
Nom complet du contributeur/déposant
Domaines
Domaine primaire
Domaine racine
Sous-domaine niveau 1
Sous-domaine niveau 2
Sous-domaine niveau 3
Statut du document
Version du document
Type de dépôt
Type de document
ISBN
Numéro - référence
Identifiant DOI
Classification
Audience
Vulgarisation
Comité de lecture - texte (oui ou non)
Actes de colloque
Référence interne
Financement
Collaborations
Ajouter
Lancer la recherche
Recherche experte (SolR)
Recherche experte (SolR)
Lancer la recherche
Vers la recherche avancée
Déposer
SysMIC
Présentation
Consulter
par auteur
par revue
par conférence
par ANR
par type de publication
Déposer
Rechercher
×
×
×
Loading...
×
Rechercher
SYSMIC
Consultez vos droits d'auteur
Titre du journal ou ISSN
Éditeur
Nombre de Fichiers déposés
524
Nombre de Notices déposées
1 165
Cartographie des collaborations
Tags
Random access memory
SEU
Logic testing
Fiabilité
Atmospheric neutrons
Flip-flops
Single event upset SEU
Fault modeling
Low-power design
BIST
Fault injection
Cross-section
FPGA
Automatic test pattern generation
Heavy ions
Memories
Thermal sensor
Circuit testing
Memory
Analytical models
Integrated circuit interconnections
Security
Simulation
Delay testing
DFT
Power demand
Integrated circuit modeling
Embedded systems
Logic gates
Hardware security
Libraries
Sensors
Resistive-open defects
Memory test
Estimation
Through-silicon vias
Crosstalk
Computer architecture
CMOS integrated circuits
AES
Hardware Trojan
Design space exploration
Power consumption
Failure analysis
Memory device
Reliability
Circuit faults
Soft errors
Modeling
RSA
Cross section
SER
Magnetic tunneling
Neutron
Accelerometer
Countermeasures
Calibration
Single Event Upset
Multiple cell upset MCU
ATPG
Radiation
Neutrons
Transistors
Low power
Accelerometers
VLSI
MRAM
Cryptographie
Electromagnetic Analysis
Monitoring
Field programmable gate arrays
Heating
Cryptography
Core-cell
Design
Variability
Test
Silicon
Noise
Testing
Delays
Clocks
Fault tolerance
Transient faults
Integrated circuit testing
Diagnostic
Integrated circuit design
Voltage
SoC
Microprocessors
Robustness
Testability
CMOS
MEMS
SRAM
DPA
Hardware
Switches
Spintronics
Fault attacks